欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
会议
> 会议详情页
Assembly design defects identification for mechanical products based on constraint verification tree
所属机构名称:电子科技大学
会议名称:4th International Conference on Manufacturing Science and Engineering (ICMSE 2013)
时间:2013
成果类型:会议
相关项目:约束驱动的机械产品设计缺陷辩识模型与方法研究
同会议论文项目
约束驱动的机械产品设计缺陷辩识模型与方法研究
期刊论文 19
会议论文 6
专利 4
同项目会议论文
Design defects immune identification methodology for mechanical products based on directed graph of
Research on Verifiable Design Model for Design Defect of Mechanical Assembly
Research on Verifiable Design Model for Design Defect of Mechanical Assembly
Research on Verifiable Design Model for Design Defect of Mechanical Assembly
Research on Verifiable Design Model for Design Defect of Mechanical Assembly