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不同退火温度下Sn1-xMgxO2薄膜的相结构和性能研究
  • 所属机构名称：天津大学
  • 会议名称：第十六届全国相图学术会议暨相图与材料设计国际研讨会
  • 时间：2012.10.10
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：Si基无氧铁电薄膜及其异质结的结构、缺陷与铁电特性研究
作者： 周宝增|周伟|吴萍|刘卫芳|邢鹏飞|
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