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Limited beta-Sn grain number of miniaturized Sn-Ag-Cu solder joints
所属机构名称:哈尔滨工业大学
会议名称:International Conference on Electronic Packaging Technology and High Density Packaging
成果类型:会议
会场:Shanghai, PEOPLES R CHINA
相关项目:含有限晶粒的电子封装微连接接头的微观力学行为
作者:
Yang Shihua|Liang Le|Tian Yanhong|Lin Pengrong|Wang Chunqing|
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