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拓扑绝缘体Bi2Se3的电子显微学研究
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 会议名称：2013年全国电子显微学学术年会
  • 时间：2013.10.19
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：铁基等新型超导材料的晶体结构与缺陷研究
作者： 王玉梅|葛炳辉|曹立新|
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