位置：成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Multi-channel accurate impedance measurement of planar electromagnetic array probe
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：MEC2013
  • 时间：2013.8.20
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：平面阵列式电磁传感器及微缺陷定量检测方法研究
同会议论文项目
平面阵列式电磁传感器及微缺陷定量检测方法研究
期刊论文 19 会议论文 9
同项目会议论文
基于Android平台的电磁无损检测实时成像系统设计
The Influence of MEMS on Electromagnetic NDT
金属结构应力检测方法综述
基于TMR元件的平面电磁传感器分析与设计
基于材料属性评估的微缺陷定量检测方法
平面阵列式电磁传感器阻抗精密测量
平面阵列式电磁传感器阻抗精密测量
Quantitative evaluation of material properties with measurement grid