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Measurement of mechanical and electrical coupling properties of individual semiconductor nanowires
  • 所属机构名称：北京工业大学
  • 会议名称：2012年全国材料科学电子显微学会议
  • 时间：2012.9.9
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：半导体纳米线/薄膜应力加载下结构演变及电学性能的研究
作者： Zheng Kun|Shao ruiwen|Wang Jiangjing|Han xiaodong|Zhang Ze|
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