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Predicting Defect Numbers based on Defect State Transition Models
  • 所属机构名称:清华大学
  • 会议名称:6th ACM / IEEE International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement (ESEM 2012)
  • 时间:2012.9.9
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:软件缺陷预测模型及其应用的研究
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