欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
会议
> 会议详情页
Remote laboratory for phase-aided 3D microscopic imaging and metrology
所属机构名称:深圳大学
会议名称:SPIE Photonics Europe, 2014
时间:2014.5.1
成果类型:会议
相关项目:基于多传感器网络的大尺寸薄壁物体的三维测量与建模
同会议论文项目
基于多传感器网络的大尺寸薄壁物体的三维测量与建模
期刊论文 14
会议论文 5
获奖 4
同项目会议论文
Phase aided 3D imaging and modeling: dedicated systems and new case studies
Ray-based calibration for the micro optical metrology system
Automatic 3D imaging and modeling system with color information for cultural heritage digitization
Efficient optical metrology for industrial inspection