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Measuring Generic Technology via Co-technology Analysis & SNA
所属机构名称:大连理工大学
会议名称:13th Conference of the International-Society-for-Scientometrics-and-Informetrics (ISSI)
时间:2011.7.7
成果类型:会议
相关项目:基于专利计量的共性技术测度体系及其应用研究
作者:
Luan, Chunjuan|Chen, Yue|
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基于专利计量的共性技术测度体系及其应用研究
期刊论文 35
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获奖 6
著作 1
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