欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
会议
> 会议详情页
Reliability experimentations for lead-free solder joint of BGA assemblies
所属机构名称:燕山大学
会议名称:IXth International Workshop on Intelligent Statistical Quality Control
成果类型:会议
会场:北京
相关项目:网络安全中的随机模型及其性能评价的关键技术
作者:
M. Hong|Quan-Lin Li|
同会议论文项目
网络安全中的随机模型及其性能评价的关键技术
期刊论文 11
会议论文 3
著作 1
同项目会议论文
Semiconductor system with multiple closed-loops constrains
Performance analytic model for authentication mechanism