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Induced mode hopping phenomenon via resonant cavity disturbances in ultra-narrow linewidth erbium-do
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：International Conference on Optical Instruments and Technology (OIT) - Optical Sensors and Applica
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：超窄线宽光纤环形腔激光器跳模机理及基于M-Z干涉仪的跳模抑制技术
作者： Ma, Mingxiang|Hu, Zhengliang|Xu, Pan|Hu, Yongming|
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