位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
硅通孔数目敏感的三维电路划分
  • 所属机构名称:合肥工业大学
  • 会议名称:2011中国仪器仪表与测控技术大会
  • 时间:2011.4.1
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:3D芯片中热量敏感的自修复TSV块布图与设计方法研究
同会议论文项目
同项目会议论文