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Quantitative measurement of piezoelectric coefficient of thin film using a scanning evanescent micro
  • 所属机构名称：中国科学技术大学
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：(PbTiO3)80-(CoFe2O4)20复合外延膜中亚稳相的同步辐射XRD和磁电耦合增强机理研究
作者： Wu, Wenbin|Luo, Zhenlin|Liu, Chihui|Gao, Chen|Lu, Yalin|Zhao, Zhenli|
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