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On high-quality test pattern selection and manipulation
  • 所属机构名称：中国科学院深圳先进技术研究院
  • 会议名称：16th IEEE European Test Symposium, ETS 2011
  • 成果类型：会议
  • 会场：Trondheim
  • 相关项目：基于片上网络的系统芯片测试架构设计与优化研究
作者： Liu X.|Yuan F.|Xu Q.|
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