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Fatigue Test of Helical Nervous Electrodes and Weak Point Analysis of Helical Nervous Electrodes Des
  • 所属机构名称：清华大学
  • 会议名称：35th Annual International Conference of the IEEE EMBS
  • 时间：2013.7.7
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：植入式脑深部刺激器的闭环控制方法研究
作者： Yuan Yuan|Hongwei Hao|Xiongwei Wen|Xiaolong Mo|Luming Li|
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