欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
Study on atomic layer etching of Si in inductively coupled Ar/Cl2 plasmas driven by tailored bias waveforms
ISSN号:1009-0630
期刊名称:《等离子体科学与技术:英文版》
时间:0
分类:TN011[电子电信—物理电子学] O657.31[理学—分析化学;理学—化学]
作者机构:School of Physics and Optoelectronic Technology, Dalian University of Technology, Dalian 116024,People's Republic of China
相关基金:This work was supported by National Natural Science Foundation of China (No. 11375040).
作者:
麻晓琴, 张赛谦, 戴忠玲, 王友年
关键词:
电感耦合等离子体, 等离子体层, 电压波形, 原子层, 偏置, 蚀刻, 定制, 多尺度模型, inductively etching sheath trench waveform chamber settled figure anisotropic angular
中文摘要:
E-mail: 1192287760@qq.com E-mail: daizhl@dlut.edu.cn
同期刊论文项目
脉冲调制等离子体增强原子层刻蚀多尺度研究
期刊论文 5
同项目期刊论文
Effects of Low-Frequency Source on a Dual-Frequency Capacitive Sheath near a Concave Electrode
Simulation of Capacitively Coupled Dual-Frequency N2, O2, N2/O2 Discharges: Effects of External Parameters on Plasma Characteristics
Effects of Tailed Pulse-Bias on Ion Energy Distributions and Charging Effects on Insulating Substrates
A Multi-Scale Study on Silicon-Oxide Etching Processes in C4F8/Ar Plasmas
期刊信息
《等离子体科学与技术:英文版》
主管单位:中国科学院 中国科协
主办单位:中国科学院等离子体物理研究所 中国力学学会
主编:万元熙、谢纪康
地址:合肥市1126信箱
邮编:230031
邮箱:pst@ipp.ac.cn
电话:0551-5591617 5591388
国际标准刊号:ISSN:1009-0630
国内统一刊号:ISSN:34-1187/TL
邮发代号:
获奖情况:
国内外数据库收录:
美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库
被引量:89