对多孔硅样品进行了各种气氛下(氮气,氩气,氧气和空气)的快速热处理(rapid thermal process,RTP),测试了RTP处理前和处理后多孔硅样品的光致发光(PL)谱和傅里叶变换红外光谱(FTIR),在400℃以上RTP处理后的多孔硅样品的PL谱中有4个蓝光发射峰,峰的位置不随RTP处理温度和气氛改变而变化,由于RTP处理的氧化作用,减小了多孔硅中纳米硅粒的尺寸,使得PL谱中出现蓝光发射峰,从理论计算可以估算出硅粒尺寸和发光峰位置的关系,而且只有特定尺寸的硅粒才有可能出现,因此PL谱的峰的位置不随RTP温度和气氛而改变。