对于芯片点胶系统的视觉检测关键技术——芯片的中心定位,根据实际需要,提出一种改进的中心定位算法。通过重心法和高斯曲面拟合法对图像进行中心定位算法处理后,再使用均方根值法对数据进行处理,从而对现有算法的不足之处进行改进。模拟实验结果表明,通过改进的中心定位算法得到的坐标更为精确,误差相对更小,能够更好地满足工业应用需求。