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自相关泊松计数过程的质量控制图
  • 期刊名称:系统工程学报
  • 时间:2010.8.8
  • 页码:506-511
  • 分类:TP273[自动化与计算机技术—控制科学与工程;自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 作者机构:[1]南京理工大学,自动化学院
  • 相关基金:国家自然科学基金重点项目(70931002)
  • 相关项目:面向复杂产品的质量控制理论与方法
中文摘要:

针对Zhang提出的常规EWMA t控制图存在只对固定偏移敏感的问题,提出了自适应EWMA t控制图.本文算法在不损失对大偏移检测敏感性的前提下,提高了常规EWMA t控制图检测小偏移的能力.使用Markov方法计算并比较了常规EWMA t控制图和AEWMA t控制图的ARL和SDRL,结果表明相同稳态ARL情况下自适应EWMA t控制图比常规EWMA t控制图有更小的SDRL.

英文摘要:

An AEWMA t control chart is proposed because Zhang’s EWMA t chart only becomes sensitive to fixed offset. And the AEWMA t chart is faster in monitoring small offset than EWMA t chart, with similar detection capability for large offset. A Markov chain method is given to develop the average run length and standard deviation run length. The result of simulations shows that,SDRL of AEWMA t chart is smaller than EWMA t chart given that the steady ARL is same.

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