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基于图像统计特征的平移线性插值
  • 期刊名称:北京理工大学学报,25(6): 526-529, 2005.6. (EI收录期刊)
  • 时间:0
  • 相关项目:基于量子秩一测量和子空间测量理论的信号处理算法研究
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