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The Effect of Dielectric Constants on Noble Metal/Semiconductor SERS Enhancement: FDTD Simulation an
  • ISSN号:2045-2322
  • 期刊名称:Scientific Reports
  • 时间:2014.2.11
  • 页码:-
  • 相关项目:分子组装体中的能量迁移及其在若干功能体系中的应用
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