在库仑求和实验中,为了研究接收度和截面计算,需要在高精度谱仪的靶平面上获得一些靶变量.这些靶变量可以通过谱仪的光学性能从聚集平面上的变量反推重建出来.原则上,谱仪的光学性能就是高精度谱仪内部磁场的数学表达,可以用光学矩阵来表示.研究了谱仪光学性能优化方法,就是对变量χ2(TgVardata-TgVartheory)进行最小化计算.通过这个计算过程,可以为库仑求和实验获得更好的光学矩阵数据.从最后的优化结果来看,实际数据和理论值符合得很好.