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Effect of bending stress on structures and quantum conduction of Cu nanowires
  • ISSN号：0003-6951
  • 期刊名称：Applied Physics Letters
  • 时间：2012.3.19
  • 页码：-
  • 相关项目：力电耦合对不同尺寸铜纳米线、薄膜传导和电迁移性质的影响
作者： He, C.|Zhang, W. X.|Shi, Z. Q.|Wang, J. P.|Pan, H.|
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