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多通道OLED器件寿命分析测试系统研制
  • ISSN号:1007-2780
  • 期刊名称:《液晶与显示》
  • 时间:0
  • 分类:TN383.1[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]华南理工大学高分子光电材料与器件研究所.特种功能材料教育部重点实验室,广东广州510640
  • 相关基金:国家“863”项目(N0.20090325,No.2008AA03A311),国家“973”项目(NOJ2009CB623600);国家自然科学基金项目(N0.60937001,No.61036007)
中文摘要:

研发了一种多通道、多功能的OLED寿命分析测试系统。该系统可以在恒定驱动电流、恒定驱动电压、恒定发光强度3种不同驱动模式下同时对512路OLED器件进行寿命测试,并可实现对测试环境温度和湿度的控制,控制器件老化的环境。测试系统具有高精度和宽测试范围,操作电流范围为0.02~100mA,操作电压范围为O~24V。系统采用模块化设计,可以根据用户需求灵活地搭建512,256,128,64,32路测试系统。基于LabVIEW开发环境编写的系统软件具有非常友好的操作界面和断电自保护功能,保证了测试的连续性。

英文摘要:

A multi-channel OLED stress test system was designed and made. The system could simultaneously stress 512 OLED devices independently in constant current, constant voltage, or constant light intensity testing mode. The system has a wide range of testing conditions with output current from 0. 02 mA to 100 mA, and output voltage from 0 to 24 V. The system adopts a modular design which could easily build 512, 256, 128, 64, 32 channels based on users' needs. The application software built on LabVIEW development platform in cludes a user-friendly interface, and a self-protection feature from power failure, ensuring the continuity of the testing, and the safety of the data. With an environment chamber, the ambient temperature and humidity could be conveniently adjusted.

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期刊信息
  • 《液晶与显示》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 中国光学光电子行业协会液晶分会 中国物理学会液晶分会
  • 主编:郭海成
  • 地址:长春市东南湖大路3888号
  • 邮编:130033
  • 邮箱:yjxs@ciomp.ac.cn
  • 电话:0431-86176059
  • 国际标准刊号:ISSN:1007-2780
  • 国内统一刊号:ISSN:22-1259/O4
  • 邮发代号:12-203
  • 获奖情况:
  • 中国科学论文统计源期刊,中国科学引文数据库来源期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:5470