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Effect of Eu2CuO4/ Yttrium-stabilized ZrO2 buffer layer on YBa2Cu3O7-x thin films grown on Si substr
  • 期刊名称:Thin Solid Film, 489 (2005) 200-204
  • 时间:0
  • 作者或编辑:3448
  • 第一作者所属机构:中国科学院物理研究所
  • 语言:英文
  • 相关项目:有机复合多层膜界面结构及界面相互作用研究
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