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中文摘要：
针对两类特殊的二、三混水平部分因子设计d＝（D；面），在适当的划分下分别给出了互补设计的Lee偏差与子设计D（D）的广义字长型和均匀性模式的解析关系，同时给出了Lee偏差的下界，最后通过两个例子来验证其结论．
英文摘要：
This paper considers two special kinds of designs d=（D｜D） with two and three mixed levels. Under a proper decomposition, it gives connections between uniformity measured by Lee discrepancy and generalized word length pattern or uniformity pattern for a pair of complementary designs d and presents a lower bound of Lee discrepancy of this kind of fractional factorials. Finally, two illustrative examples are given to shown our theoretical results.
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