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准分子激光对半导体材料HgCdTe和Si的损伤实验研究
  • ISSN号:0253-2743
  • 期刊名称:《激光杂志》
  • 时间:0
  • 分类:TN249[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]山东师范大学物理与电子科学学院,济南250014
  • 相关基金:本项目由国家自然科学基金(10474059)和山东省自然科学基金(Y2007A05)资助.
中文摘要:

本文利用光学显微镜和扫描电镜对248nm准分子强激光辐照HgCdTc和Si晶片的表面损伤形貌和损伤过程进行了对比分析,结果表明在248nm准分子激光作用下,HgCdTe材料主要表现为解离剥蚀破坏和熔融烧蚀破坏,准分子激光对其损伤机理既包含光化学作用也包含光热作用;而Si材料则主要表现为熔融烧蚀破坏,准分子激光对其损伤机理主要为光热作用.

英文摘要:

In this work, the surfaces of HgCdTe and Si materials irradiated by 248nm excimer laser are examined by an optical microscope and a scoanning electron microscope. Through comparative analysis of the damage surfaces, it is found that the damage mechanism of the HgCdTe crystal is very different from that of the Si. The former incorporates both photochemical and photothermal effect. However, the later is dominantly photothermal effect.

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期刊信息
  • 《激光杂志》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:重庆市科学技术委员会
  • 主办单位:重庆市光学机械研究所
  • 主编:程正学
  • 地址:重庆市渝北区黄山大道杨柳路2号A座9楼
  • 邮编:401123
  • 邮箱:1493505056@qq.com
  • 电话:023-63051328
  • 国际标准刊号:ISSN:0253-2743
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1085/TN
  • 邮发代号:78-9
  • 获奖情况:
  • 物理类核心期刊,无线电子学、电信技术类核心期刊,《EI》收录,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:11130