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Detecting surface features on conducting specimens through an insulation layer using a capacitive im
  • ISSN号：0963-8695
  • 期刊名称：NDT & E International
  • 时间：0
  • 页码：157-166
  • 相关项目：基于激励阵列的ACFM缺陷可视化检测技术与应用研究
作者： Yin, Xiaokang|Hutchins, David A.|Chen, Guoming|Li, Wei|
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