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基于相变存储器器件单元的电流脉冲测试系统
  • ISSN号:1001-5868
  • 期刊名称:《半导体光电》
  • 时间:0
  • 分类:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室,上海200050, [2]中国科学院大学,北京100080
  • 相关基金:国家“973”计划项目(2011CB9328004,2010CB934300,2011CBA00607);国家集成电路重大专项项目(2009ZX02023-003);国家自然科学基金项目(60906004,60906003,61006087,61076121,61176122,61106001);上海市科委项目(11DZ2261000,1052nm07000,11QA1407800);中国科学院资助项目(20110490761).
中文摘要:

相变存储器单元的测试主要包括set、reset和read操作,目前国内外多采用施加电压脉冲的方法对相变存储单元进行reset操作,这不仅容易造成器件的损坏,而且使得相变过程中瞬态电流的准确计算非常困难。与常规测试方法不同,文章提出一种专门针对相变存储器的电流脉冲测试系统,该系统可以提供准确可控的电流脉冲来对相变存储器器件单元进行操作。

英文摘要:

Tests for phase change memory (PCM) device unit mainly includes set, reset and read. Traditional test systems usually apply voltage pulses to do reset operation on phase change memory, but this measurement method not only easily results in damage to the devices, but also makes it very difficult to measure the transient current. Unlike the conventional test methods, a current pulse test system for PCM device unit is introduced in this work and the system can supply precise and controllable current pulses to operate PCM.

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期刊信息
  • 《半导体光电》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:信息产业部
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第四十四研究所(重庆光电技术研究所)
  • 主编:江永清
  • 地址:重庆市南岸区南坪花园路14号
  • 邮编:400060
  • 邮箱:soe@163.net
  • 电话:023-65860286
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-5868
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1092/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 重庆市首届十佳期刊称号,1999年,信息产业部1999-2000年度优秀电子期刊称号
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:5924