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(Bi3.7Dy0.3)(Ti2.8V0.2)O12铁电薄膜的制备及退火影响
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN305[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]湘潭大学材料与光电物理学院低维材料及应用技术教育部重点实验室,湖南湘潭411105
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(10472099);国家杰出青年基金(10525211);湖南省自然科学基金(05JJ30206)
中文摘要:

铁电材料在铁电存储器等领域具有良好的应用前景,受到极大的关注,其中铋层状铁电薄膜因为其良好的铁电性,得到了广泛的研究。采用溶胶-凝胶法在Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)基底成功沉积出(Bi3.7Dy0.3)(Ti2.8V0.2)012(BDTV)的A、B位同时掺杂的铁电薄膜,发现这种双掺能够显著改善薄膜的铁电性。研究了650~800℃不同退火温度下,BDTV铁电薄膜的铁电性能、晶体结构及表面形貌变化。通过SEM分析发现,温度为750℃时,薄膜的颗粒生长较好,薄膜的铁电性能最佳。

英文摘要:

The ferroelectric materials attract much attention for its promising application prospect in the ferroelectric memories. The Bi layer-structured ferroelectric thin film receives extensive research for its good performance. With the substitutions of both A-site ions and B-site ions in BIT, (Bi3.7Dy0.3)(Ti2.8V0.2)O12 (BDTV) ferroelectric thin films were deposited successfully on Pt ( 111 ) /Ti/SiO2/Si (100) substrate by sol-gel method. It is found that the double substitutions can improve the ferroelectric characteristics greatly. The ferroelectric performance, crystal structure and surface morphology were studied at the annealing temperatures of 650 - 800 ℃. The SEM analysis shows that the grains crystallize better and the thin films have the optimal ferroelectric performance at 750℃.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
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  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
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  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070