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一种CMOS混合信号电路衬底噪声耦合模型
  • ISSN号:1000-3819
  • 期刊名称:《固体电子学研究与进展》
  • 时间:0
  • 分类:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]西安电子科技大学微电子研究所,西安710071
  • 相关基金:国家自然科学基金(60476046,60676009);教育部博士点基金(20050701015);国家部委基金(51408010205DZ0164);西安市AM基金(XA-AM-200502)资助项目.
中文摘要:

利用二维器件模拟器MEDICI提取出重掺杂外延型衬底的电阻宏简化模型,所需的6个参数均可通过器件模拟得到,能够精确表征混合信号集成电路中的衬底噪声特性。基于0.25pmCMOS工艺所建立的电阻宏模型,设计了简单的混合信号电路进行应用验证,证明了该模型能够有效表征混合信号集成电路的衬底噪声。

英文摘要:

A resistance macro-model of heavily doped epi-substrate is extracted by the 2-d device simulator MEDICI. The model requires only 6 parameters which can be extracted from a few of simple device simulations. This model can characterize the substrate noise in the mixed signal ICs accurately. Modeling is performed for the 0.25 μm CMOS technology and the resulting model is applied to the circuit. Finally, a comparison is made between the simulation results and the test results, and the substrate noise coupling model has been verified.

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期刊信息
  • 《固体电子学研究与进展》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:南京电子器件研究所
  • 主编:杨乃彬
  • 地址:南京中山东路524号(南京160信箱43分箱)
  • 邮编:210016
  • 邮箱:gtdz@chinajournal.net.cn
  • 电话:025-86858161
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3819
  • 国内统一刊号:ISSN:32-1110/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 中国期刊方阵双效期刊,江苏省第六届优秀期刊,工信部09-10年期刊编辑质量优秀奖
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:2461