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Optcial and structural characterization of SnO2:F/SiCxOy tandem thin films by spectroscopic ellipsom
  • ISSN号:0040-6090
  • 期刊名称:Thin Solid Films
  • 时间:2013.6.6
  • 页码:84-91
  • 相关项目:应变驱动磁电多铁性BiFeO3准同型相界的第一性原理研究
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