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Optcial and structural characterization of SnO2:F/SiCxOy tandem thin films by spectroscopic ellipsom
ISSN号:0040-6090
期刊名称:Thin Solid Films
时间:2013.6.6
页码:84-91
相关项目:应变驱动磁电多铁性BiFeO3准同型相界的第一性原理研究
作者:
K. K. Wang, Y. F. Hua, J. Wang, C. L. Song, S.|
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