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Pr掺杂对Ce5.2Sm0.8MoO15-δ晶界及电性能的影响
  • ISSN号:0567-7351
  • 期刊名称:《化学学报》
  • 时间:0
  • 分类:O484.42[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]长春工业大学生物工程学院,长春130012, [2]中国科学院长春应用化学研究所稀土化学与物理重点实验室,长春130022
  • 相关基金:国家自然科学基金(Nos.20331030,20671088)资助项目.
中文摘要:

在Ce5.2Sm0.8-xPrxMoO15-δ体系中引入少量Pr得新氧化物Ce5.2Sm0.72Pr0.08MoO15-δ,通过X射线衍射(XRD),拉曼光谱(Raman),X射线光电子能谱(XPS),场发射扫描电镜(FE-SEM)等手段对氧化物结构进行分析,交流阻抗谱测试电性能;讨论掺杂少量Pr对Ce5.2Sm0.8MoO15-δ微观结构和电性能的影响.结果表明,少量Pr^3+的掺杂可降低晶界电阻,增加离子扩散通道,降低体系的总电导激活能和晶界电导激活能,提高氧化物的总电导率和晶界电导率;500℃时掺Pr材料的晶界电导率为6.79×10^-3S·cm^-1,比未掺Pr材料的晶界电导率(5.61×10^-5S·cm^-1)提高约2个数量级.

英文摘要:

Material formulated as Ce5.2Sm0.8-xMoO15-δ (x = 0.08) was prepared by adding small amounts of Pr dopant in oxide Ce5.2Sm0.8-xMoO15-δ. Structural and electrical properties were investigated by means of X-ray diffraction (XRD), Raman spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM) and AC impedance spectroscopy. The effect of small amounts of Pr on microstructure and electrical conductivity was discussed. It was showed that the material doped with Pr has a lot of dents and small openings, which provide channels for oxygen ions, resulting in lower grain boundary and total conductivity activation energy. Thus the corresponding grain boundary conductivity and total conductivity of the material were improved notably. The grain boundary conductivity of the material doped with Pr is 6.79×10^-3S·cm^-1 at 500 ℃, which is twice as large as that without Pr (5.61×10^-5S·cm^-1).

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期刊信息
  • 《化学学报》
  • 北大核心期刊(2014版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国化学会 中国科学院上海有机化学研究所
  • 主编:周其林
  • 地址:上海市零陵路345号
  • 邮编:200032
  • 邮箱:hxxb@sioc.ac.cn
  • 电话:021-54925085
  • 国际标准刊号:ISSN:0567-7351
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1320/O6
  • 邮发代号:4-209
  • 获奖情况:
  • 首届国家期刊奖,第二届国家期刊奖提名奖,中国期刊方阵“双高期刊”
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国科学引文索引(扩展库),日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:28694