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Optical purity evaluation of the noble metal by the ellipsometric method
  • 期刊名称:Thin Solid Films, 455-456, 84-89 (2004).
  • 时间:0
  • 作者或编辑:3448
  • 第一作者所属机构:Fudan University
  • 语言:英文
  • 相关项目:纳米光电子器件光学性质的实时光谱学分析和研究
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