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一种有效的低功耗扫描测试结构-PowerCut
  • 期刊名称：《计算机研究与发展》, 44(3):473-478, 2007年3月
  • 时间：0
  • 相关项目：数字VLSI电路测试技术研究
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数字VLSI电路测试技术研究
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