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冒险共振现象及其在CMOS电路最大
  • 期刊名称：《微电子学与计算机》, 第20卷, 第5期, 2003年5月, pp.28-32
  • 时间：0
  • 相关项目：从行为级到版图级的设计验证与测试生成
作者： 徐勇军, 骆祖莹, 李晓维*
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