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相变随机存储器材料与结构设计最新进展
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN333.8[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所纳米技术研究室,上海200050
  • 相关基金:国家重点基础研究发展计划(2007CB935400,2006CBXU700);国家863计划资助项目(2006AA03Z360,2008AA031402);国家自然科学基金资助项目(60706024);上海市科委资助项目(06QA14060,06XD14025,0652mn003,06DZ22017,0752nm013,07QA14065)
中文摘要:

介绍了相变随机存储器(PCRAM)的研究现状,包括新型相变材料、热阻层材料和器件结构等。分析了GeSb和SiSb等相变材料具有组分简单、数据保持力好、优良的存储性能等特点,介绍了PCRAM这一新型半导体存储器的基本原理、特点以及国内外有关相变材料、过渡层材料和器件结构设计等方面的研究进展,最后提出了我国发展PCRAM的几点思考。

英文摘要:

The current situation of phase-change random access memory (PCRAM) is reviewed, including new phase change materials, buffer layer materials, and cell structures. With the advantages of simple composition, good data retention, and excellent memory performance, GeSb and SiSb are both new phase-change materials with good application potential in PCRAM chips. The developing strategy and destination of PCRAM in China and abroad are proposed on new materials and device structures. And some considerations on the development of PCRAM in China are proposed.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070