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三维集成电路堆叠硅通孔动态功耗优化
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安710071
  • 相关基金:国冢自然科学基金(批准号:61334003)资助的课题.
中文摘要:

三维集成电路堆叠硅通孔结构具有良好的温度和热特性.提出了一种协同考虑延时、面积与最小孔径的堆叠硅通孔动态功耗优化办法.在提取单根硅通孔寄生电学参数的基础上,分析了硅通孔的直径对多层硅通孔的功耗与延时性能的影响,由此构建了分层逐级缩减堆叠硅通孔结构,分析了硅通孔高度与氧化层厚度的影响.结果表明,该模型可在牺牲少许延时的情况下显著优化动态功耗,在允许牺牲延时5%的情况下,堆叠硅通孔的动态功耗最多可减少19.52%.

英文摘要:

Stack-through silicon via (TSV) used in three-dimensional integrated circuit has good temperature and heat transfer characteristics. A novel model for optimizing the dynamic power consumption based on stacked-TSV is proposed in this paper, in which delay, area and minimum aperture are comprehensively considered. After extracting single TSV parasitic electrical parameters, we analyze the influences of TSV size on multilayer TSV power consumption and delay performance, thereby building the hierarchical reduction TSV structure step by step. Moreover, the influences of TSV height and thickness of oxide layer are discussed. Results show that the model can significantly improve the dynamic power consumption at the expense of little delay. The power consumption optimization reduction is up to 19.52% with 5%delay penalty.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876