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SiON钝化膜对硅衬底氮化镓绿光LED可靠性的影响
  • ISSN号:1000-7032
  • 期刊名称:《发光学报》
  • 时间:0
  • 分类:O482.31[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]南昌大学国家硅基LED工程技术研究中心,江西南昌330047
  • 相关基金:国家自然科学基金(61040060);教育部长江学者与创新团队发展计划(IRT0730)资助项目
中文摘要:

研制了4种不同表面钝化类型Si衬底GaN基绿光LED,分别标记为样品A、B、C、D。样品A无钝化层,样品B为台面SiON钝化,样品C为侧面SiON钝化,样品D为台面和侧面均钝化。将4种样品进行了常温60 mA(电流密度312 A/cm2)下168 h的加速老化,并对比了老化前后的I-V和光衰等特性。结果表明:侧边的SiON钝化层可有效抑制有源区内非辐射复合缺陷的增加,从而有效降低器件老化后的漏电流和光衰。与台面上的SiON相比,侧边的SiON对钝化起到了决定性作用。

英文摘要:

The green LED with vertical structure was fabricated by transferring the epilayers of GaN-based LED grown on Si(111) substrate to a new Si substrate.Four groups of LED with chip size of 200 μm×200 μm were fabricated,labeled as sample A,B,C and D,respectively.Sample A was uncoated.Top surface of sample B,sidewall of sample C and both top surface and sidewall of sample D were coated with SiON passivation layer under the same experimental condition.Electrical and optical properties were investigated after 168 hours accelerated aging under 60 mA DC current at room temperature.The results show that the sidewall-SiON layer could decrease the generation of non-recombination centers in the active layer.Thus it could reduce leakage currents and the luminous decay.Comparing to the top-surface SiON,the sidewall SiON played a decisive role in improving the reliability of the LED.

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期刊信息
  • 《发光学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会发光分会 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 主编:申德振
  • 地址:长春市东南湖大路3888号
  • 邮编:130033
  • 邮箱:fgxbt@126.com
  • 电话:0431-86176862
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7032
  • 国内统一刊号:ISSN:22-1116/O4
  • 邮发代号:12-312
  • 获奖情况:
  • 物理学类核心期刊,2000年获中国科学院优秀期刊二等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7320