位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
XeF2对SiO2/Si的干法刻蚀
  • ISSN号:0253-2778
  • 期刊名称:《中国科学技术大学学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN3[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥230029, [2]中国科学技术大学中国科学院量子信息重点实验室,安徽合肥230027
  • 相关基金:国家大科学工程(NSRL二期工程),国家自然科学基金(60537020,60121503)和中国科学技术大学青年基金(KA2310000007)资助.
中文摘要:

XeF2是一种可以在常温下与硅发生反应的气体,可用作对硅进行干法刻蚀的工作气体,其对硅刻蚀特性呈现各向同性.研制了一个使用脉冲法对二氧化硅/硅体系进行XeF2刻蚀的系统,刻蚀系统简单且操作容易.利用该系统成功地刻蚀出“蘑菇状”的SiO2/Si结构,得到的刻蚀选择比大于1000.

英文摘要:

XeF2 can react with silicon in room temperature and be kind of isotropie dry etching. A XeF2 pulse etching system with used as silicon dry etching gas, it is a simple structure and easy operating has been constructed to perform SiO2/Si etching. With this system, the mushroom like SiO2/Si structure has been fabricated, and the etching selectivity between silicon and silica mask exceed 1 000.

同期刊论文项目
期刊论文 62
期刊论文 90
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《中国科学技术大学学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学技术大学
  • 主编:何多慧
  • 地址:安徽省合肥市金寨路96号
  • 邮编:230026
  • 邮箱:JUST@USTC.EDU.CN
  • 电话:0551-63601961 63607694
  • 国际标准刊号:ISSN:0253-2778
  • 国内统一刊号:ISSN:34-1054/N
  • 邮发代号:26-31
  • 获奖情况:
  • 1999年,全国优秀高等学校自然科学学报及教育部优...,2001年,安徽省1999-2001年度优秀科技期刊一等奖,2002年,第三届华东地区优秀期刊奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:8237