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A Systematic Investigation on Leaky Characteristics for NRD Guide with Arbitrary Profile of Cross Se
  • 期刊名称：International Journal of Infrared and Millimeter W
  • 时间：0
  • 作者或编辑：3448
  • 页码：Vol.20, No.3, pp.491-504, 1999
  • 语言：英文
  • 相关项目：半导体霍耳效应测量的无接触微波方法
作者： Zeng Xiangyin|Xu Shanjia|T. Yoneyama|
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