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单电子晶体管与原子力扫描探针的集成
  • ISSN号:1671-4776
  • 期刊名称:《微纳电子技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN325.2[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]上海大学材料科学与工程学院,上海200444, [2]中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、纳米器件与应用重点实验室,江苏苏州215123
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(11403084,61401456,61271157); 中国科学院科研装备研制项目(YZ201152)
中文摘要:

单电子晶体管(SET)可用作超灵敏电荷计,将SET集成到原子力扫描探针上,可得到对被测样品的表面形貌和电荷空间分布扫描成像。介绍了一种硅基台阶型原子力扫描探针与SET的集成方案。一对共漏极的SET集成在台阶型针尖上,台阶型的针尖和静电探针的设计避免了SET的刻蚀损伤。通过SET和静电探针的电容耦合来实现电荷探测。将扫描探针与石英音叉进行组装,在8 K低温下成功实现了间距2μm金属光栅10°倾角的形貌扫描,并获得形貌图,针尖上的SET具有良好的库仑阻塞效应和单电子隧穿特性。

英文摘要:

Abstract: The single electron transistor (SET) can be used as a ultra-sensitive charge detector. By the integration of the SET with the atomic-force scanning probe, the scanning images of the surface morphology and charge spatial distribution for the measured sample were obtained. An integration scheme of the silicon-based step-typed atomic force scanning probe and SET was intro- duced. A pair of common drain SETs were integrated on the step-typed probe tip. The designs of the step-shaped probe tip and electrostatic probe can prevent the damage of SET during the etching process. The charge detection was realized by capacitive coupling of the SET and electrostatic probe. The scanning probe and quartz tuning fork were assembled to successfully achieve the morphological scanning image of the metal gratings with 2 μm gap at 10° inclination under 8 K low temperature. The SET on the probe has a good eoulomb bloekade effect and single electron tunneling characteristics.

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期刊信息
  • 《微纳电子技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:李和委
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  • 邮编:050002
  • 邮箱:wndz@vip.sina.com
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  • 国际标准刊号:ISSN:1671-4776
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1314/TN
  • 邮发代号:18-60
  • 获奖情况:
  • 2002-2003和2003-2004年度,均获信息产业部电子科...,2005-2006年度获信息产业部电子科技期刊学术技术...,中国学术期刊执行(光盘版)检索与评价数据规范优...,2007-2008年度又荣获工业和信息化部电子科技期刊...
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:3327