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γ-辐照对纯Y2SiO5和Eu3+:Y2SiO5
  • 期刊名称：光学学报， 2005, 25(12):1655-1658
  • 时间：0
  • 相关项目：高分辨率X射线相位成像单晶薄膜的制备及性能研究
作者： 庞辉勇，赵广军, 介明印，朱江，
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高分辨率X射线相位成像单晶薄膜的制备及性能研究
期刊论文 9
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