位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Ti薄膜在Si基底上的生长模拟
  • ISSN号:1001-9731
  • 期刊名称:《功能材料》
  • 时间:0
  • 分类:TG146.23[金属学及工艺—金属材料;一般工业技术—材料科学与工程;金属学及工艺—金属学]
  • 作者机构:[1]中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳621900, [2]四川大学材料科学与工程学院,四川成都610064
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(50871106);中物院重点基金资助项目(2010A0301011)
中文摘要:

利用三维动态蒙特卡洛模型模拟了Si基底上沉积Ti薄膜的初始期间的生长特性。模拟结果发现,在扩散截止步长为50的情况下,沉积温度和沉积速率对Ti薄膜初始生长模式和表面形貌有明显的影响。模拟结果表明,随着沉积温度的增加,Ti薄膜的初始晶核尺寸越来越大,数目越来越少,趋于岛状生长模式,同时Ti薄膜的相对密度越来越大,薄膜表面粗糙度也越来越小,即:较高的温度有利于Ti薄膜的岛状生长。随着沉积速率的增大,Ti薄膜表面越来越粗糙,相对密度也越来越小;较大的沉积速率不利于Ti薄膜的生长。

英文摘要:

The initial stage growth peculiarity of Ti thin film onto Si substrate was simulated by a three-dimen- sional kinetic Monte Carlo model. The simulation results show that the number of initial nucleus of Ti thin film decreased gradually with the increasing of deposition temperature, and the size of the Ti grains gets larger with the increasing of the deposition temperature when the diffusion cut-off step was 50. It was found that the sur- face root-mean-square roughness of Ti thin film was increased and the relative density of Ti film was decreased with the increasing of the deposition rate. Higher deposition temperature and lower deposition rate is beneficial to the growth of Ti thin film.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《功能材料》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:重庆材料研究院
  • 主办单位:重庆材料研究院
  • 主编:黄伯云
  • 地址:重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
  • 邮编:400707
  • 邮箱:gnclwb@126.com
  • 电话:023-68264739
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-9731
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1099/TH
  • 邮发代号:78-6
  • 获奖情况:
  • 2008、2011年连续获中国精品科技期刊,2010获重庆市双十佳期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:30166