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32Si AMS measurement with DE-Q3D method
  • 期刊名称：Nuclear Instruments and Methods in Physics Researc
  • 时间：0
  • 页码：2745-2749
  • 语言：中文
  • 相关项目：Si-32的加速器质谱高灵敏测量方法及其半衰期测定
作者： wang wei |Li chaoli|He Ming |Zhen Guowen |Hu hao |Jiang Shan |gong Jie|
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