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基于ARM 和FPGA 的双核电磁无损检测系统设计
ISSN号:1674-5124
期刊名称:中国测试
时间:0
页码:-
相关项目:平面阵列式电磁传感器及微缺陷定量检测方法研究
作者:
刘丽辉|陈棣湘|田武刚|
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期刊信息
《中国测试》
北大核心期刊(2011版)
主管单位:中国测试技术研究院
主办单位:中国测试技术研究院
主编:杨杰斌
地址:成都市成华区玉双路10号
邮编:610021
邮箱:zgcs8440@163.com
电话:028-84404872 84403677
国际标准刊号:ISSN:1674-5124
国内统一刊号:ISSN:51-1714/TB
邮发代号:62-260
获奖情况:
国内外数据库收录:
俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),波兰哥白尼索引,美国剑桥科学文摘,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
被引量:2805