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基于ARM 和FPGA 的双核电磁无损检测系统设计
  • ISSN号:1674-5124
  • 期刊名称:中国测试
  • 时间:0
  • 页码:-
  • 相关项目:平面阵列式电磁传感器及微缺陷定量检测方法研究
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期刊信息
  • 《中国测试》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国测试技术研究院
  • 主办单位:中国测试技术研究院
  • 主编:杨杰斌
  • 地址:成都市成华区玉双路10号
  • 邮编:610021
  • 邮箱:zgcs8440@163.com
  • 电话:028-84404872 84403677
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-5124
  • 国内统一刊号:ISSN:51-1714/TB
  • 邮发代号:62-260
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),波兰哥白尼索引,美国剑桥科学文摘,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:2805