位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Damage Production in Silicon lrradiated with 112 MeV Ar lons
  • 期刊名称：Nucl.Instr.Methods
  • 时间：0
  • 页码：1998,135:219-223
  • 语言：英文
  • 相关项目：高能重离子引起的辐照损伤效应及其微观机理研究
作者： Changlong Liu, Mingdong Hou, Zhiyong Zhu, Zhihuang Wang et al|
同期刊论文项目
高能重离子引起的辐照损伤效应及其微观机理研究
期刊论文 15
同项目期刊论文
电子能损引的潜径迹
Tracks of High Energy Hevy lons in HOPG studied with Scanning Tunneling Microscopy
快重离子引起的塑性形变现象
Chemical Modificaions in Polyethlene Terephthalate Film Induced by 35 MeV/u Au lons
Modeling of Damage Creation in Metallic Materials under Swift Heavy lon lrradiation
离子辐照单晶Si损伤效应的研究
高能Ar离子辐照PET引起的光吸收变化研究
Molecular Conformation Changes of PET Films under High-Energy Ar lon Bombardment
红外光吸收研究35MeV/u Ar离子辐照半晶质聚酯膜引起的效应
35MeV/u Ar离子辐照聚酯膜引起的效应研究
重离子在半导体器件中引起的单粒子效应
Study of Effects in polyethylene Terephthalate Films Induced by High Energy Ar Ion lrradiation
Experimental Studies of Single-Event Effects Induced by Heavy lons
σ-LET curve obtained with heavy ions accelerated by HIRFL