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SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]清华大学电子工程系,北京100084, [2]清华大学宇航中心,北京100084
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(61301079,91338103,91538202)
中文摘要:

星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路。为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,完成对SEM IP核的功能验证。为提高测试效率,设计了基于上述平台的自动注错方法。经过验证,该方法能够达到预期的帧地址覆盖率。实验结果表明,SEM IP核具备软错误注入与缓解功能,自动注错方法有利于此IP核的实际应用。

英文摘要:

The satellite equipment works in the space environment permanently. The charged particles radiation in the universe can cause undesired effects in devices,such as soft error in memory devices and even permanent damage in hardware circuits. To simulate the effect of the ionizing radiation on devices,a platform was set up based on the soft error mitigation( SEM) controller IP core on Xilinx Kintex-7 and a functional verification of the SEM IP on the platform was performed. An automatic error injection method was proved by the result of a test,was proposed to improve the efficiency of the verification. After verification,the proposed method can achieve the expected frame address coverage rate. The experimental results show that the SEM IP core has functions of soft error injection and mitigation,and the automatic error injection method contributes to the application of the IP core.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070