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利用Kelvin探针力显微镜研究纳米尺度下n-AlGaN/GaN薄膜的表面电荷性质
  • ISSN号:0251-0790
  • 期刊名称:《高等学校化学学报》
  • 时间:0
  • 分类:O649.2[理学—物理化学;理学—化学] O614[理学—无机化学;理学—化学]
  • 作者机构:[1]吉林大学化学学院,长春130012
  • 相关基金:国家重点基础研究发展计划项目(批准号:2007CB613303); 国家自然科学基金(批准号:20703020 20873053)资助
中文摘要:

利用真空Kelvin探针力显微镜(KFM)研究了纳米尺度下n-AlGaN/GaN薄膜的表面电荷性质并进行了定量测量.结果表明,n-AlGaN/GaN薄膜的表面位错均为电活性的受主型表面态,所捕获电荷的区域远远大于表面位错的大小,其表面电势与GaN薄膜表面电势的最大差值达到590 mV.在光照下,n-AlGaN/GaN薄膜的表面电荷发生了明显的光生电荷重新分布现象.

英文摘要:

The surface charge characteristics of n-AlGaN/GaN heterostructures films in nano-scale were studied by means of Kelvin probe force microscopy(KFM) technique in vacuum.The results show that all the dislocations of n-AlGaN/GaN heterostructures films are negatively charged,and the maxinum contact potential difference between the dislocations and GaN is about 590 mV.Moreover the contact potential variations around the dislocations in n-AlGaN/GaN heterostructures films is much larger than that of dislocations in diameter.The photo-generated charges rediscontribution was observed under illumination.This result indicates that surface charges of semiconductor in nano-scale can be measured quantitatively by KFM in vacuum condition.

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期刊信息
  • 《高等学校化学学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中华人民共和国教育部
  • 主办单位:吉林大学 南开大学
  • 主编:周其凤
  • 地址:吉林大学南胡校区
  • 邮编:130012
  • 邮箱:cjcu@jlu.edu.cn
  • 电话:0431-88499216
  • 国际标准刊号:ISSN:0251-0790
  • 国内统一刊号:ISSN:22-1131/O6
  • 邮发代号:12-40
  • 获奖情况:
  • 首届及第二届国家期刊奖,连续两届“百种中国杰出学术期刊”,中国期刊方阵“双高”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:50676