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Absolute surface metrology by rotational averaging in oblique incidence interferometry
  • ISSN号:1539-4522
  • 期刊名称:APPLIED OPTICS
  • 时间:2014.6.1
  • 页码:3370-3378
  • 相关项目:大尺寸、超光滑X射线反射镜的二维检测方法的研究
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